Буряков из РТУ МИРЭА предупредил об опасности повреждённых кабелей
Заведующий лабораторией РТУ МИРЭА Арсений Буряков в беседе с RT предупредил: повреждённые зарядные кабели создают риск искрения и перегрева из-за нестабильного контакта. Единственное верное решение — замена шнура или устройства
При повреждении зарядного кабеля нарушается целостность внешней изоляции, а тонкие медные жилы перетираются частично или полностью. Как отметил заведующий лабораторией терагерцевой спинтроники РТУ МИРЭА Арсений Буряков в беседе с RT, разрыв медных волокон происходит не одновременно: часть из них сохраняет контакт, однако он остаётся нестабильным.
Специалист пояснил, что при каждом подключении повреждённого кабеля к зарядному устройству конфигурация соприкосновений меняется, вместе с ней изменяется и электрическое сопротивление в месте надлома.
Точно предсказать момент возможного искрения или перегрева невозможно. В месте надлома возникают микрообрывы и нестабильные контакты. При прохождении тока это порождает импульсные помехи и всплески напряжения, которые проходят в контроллер питания смартфона.По его словам, использование повреждённых кабелей и некачественных зарядных устройств увеличивает риск возникновения сбоев в работе зарядки: процесс может замедляться, заряд прерываться на уровне 70–80 %, а также возможны проблемы с распознаванием подключения.
Современные смартфоны имеют защиту, но длительное использование нестабильного питания может ускорить деградацию компонентов. Верный признак серьёзного повреждения: при изгибе кабеля в месте повреждения зарядка прерывается, а при выпрямлении восстанавливается. Это указывает на частичный обрыв жилы и нестабильный контакт внутри.В тексте подчёркивается, что любые попытки механически зафиксировать место надлома с помощью изоленты, скотча или термоусадки не устраняют электрический дефект. Контакт остаётся нестабильным, и риск перегрева сохраняется.
Единственное правильное решение — замена кабеля. Если шнур несъёмный, менять придётся всё устройство.Ранее в беседе с RT кандидат технических наук, доцент кафедры физики и технической механики РТУ МИРЭА Олег Рубан объяснил, представляет ли опасность хранение старых телефонов в домашних условиях.